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Nicolet™ iN™ 10 MX 显微红外成像光谱仪    订购编号:

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Nicolet™ iN™ 10 MX 显微红外成像光谱仪

Thermo Scientific™  相关应用: Spectroscopy Elemental Isotope Analysis

Thermo Scientific™ Nicolet™ iN™10 MX 显微红外成像光谱仪功能出色,包括新一代软件,是一个经济、高效的显微光谱仪

Nicolet iN10 MX 显微红外成像光谱仪操作简便,可以快速采集、分析化学图像,加深使用者对多相样品中的材料化学物质分布的理解。 Nicolet iN10 MX 显微红外成像光谱仪  集成 Thermo Scientific™ OMNIC™ Picta™ 软件,任何经验的用户均可获得一致可靠的结果。 此外,Nicolet iN10 MX 显微红外成像光谱仪采用一体化、高效光学设计,改善了常规单点测量的速度和灵敏度以及化学成像数据的质量。
 

货号 产品规格 应用 检测器类型 深度(公制) 单价 (CNY)
IQLAADGAAGFAHDMAPE - 显微光谱学和材料鉴定 标准: DTGS;可选: LN 冷却 MCT-A 和 MCT-A 线阵 653 mm 申请报价
 
产品规格 -
检测器类型 标准: DTGS;可选: LN 冷却 MCT-A 和 MCT-A 线阵
高度(公制) 533 mm
电压 100 - 240 VAC 47-63 Hz 3.2 A
宽度(公制) 622 mm
型号 Nicolet iN 10 MX 显微镜
应用 显微光谱学和材料鉴定
深度(公制) 653 mm
认证/合规 CE;ETL;制造工厂获 ISO 9001:2000 认证
包括 采样工具套件
物品描述 Nicolet iN 10 MX 显微红外成像光谱仪
Warranty 整机系统享有 1 年的全面保修服务

描述

Nicolet iN 10 MX 显微红外成像光谱仪的特点:

  • 采用一体化设计,无需使用 FT-IR 光谱仪,即可对显微样品行分析
  • 配置标准的 DTGS 室温检测器,无需使用液氮,即可分析小至 50 微米的样品
  • Ultra-fast mapping(超快速成像)功能,结合液氮冷却 MCT 检测器使用时,可以获得更多分析功能
  • Ultra-Fast Mapping(超快速成像): 在 16cm 分辨率下,可达 10 步/秒,相当于仅在 4.5 分钟内可完成 1.2 × 1.2mm
  • 标准单点 MCT 检测器
  • 空间分辨率高于 10 微米
  • 内置高度智能自动化设计功能,可自动执行仪器验证,提供相关化学、物理和分布信息
  • 除具有 Thermo Scientific™ Nicolet™ iN™ 10 显微红外光谱仪的全部优势和选项,还具有强大的超快速成像功能

可配置的选件:

  • 通过 MicroTip ATR,可以直接采样;通过液氮冷却检测器可以改善灵敏度
  • 超快速 MX 成像检测器(在空间分辨率相同的情况下,比可选单点 MCT 检测器的快 15 倍)
  • 双屏显示,便于舒适、高效地进行查看
  • 自动可见偏振可改善查看效果

订货提示: 此显微红外成像光谱仪专为满足您的特定应用需要而设计。 详细信息,请联系您的 Thermo Scientific 销售代表。

推荐用途:

  • 显微光谱学
  • 材料鉴定
  • 包装材料
  • 涂层
  • API 混合物分布图
  • 异物鉴定
  • 失效分析
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  • Application Note: Attenuated Total Reflection FTIR Imaging of Soft Chew Formulations
  • Application Note: Forensic Analysis of Paper Currency with FT-IR Microscopy
  • Application Note: FT-IR Microspectroscopy in Forensic and Crime Lab Analysis
  • Brochure: Nicolet iN10 MX FT-IR Microscope
  • Brochure: Thermo Scientific Nicolet iN10, Nicolet iN10 MX
  • PIC/S GMPの施行に向けた新たな取り組み[JA]
  • Specification Sheet: Nicolet iN10 MX Infrared Imaging Microscope
  • Technical Bulletin: Room Temperature vs. LN2 -Cooled Detectors Infrared Microscopy Cost/Performance Analysis
  • White Paper: Setting the Benchmark for Confidence and Ease of Use in FT-IR Microscopy
  • 赤外イメージングによる異物の高速スクリーニング[JA]
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