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Nicolet™ iN™ 10 MX 显微红外成像光谱仪 订购编号:
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Nicolet™ iN™ 10 MX 显微红外成像光谱仪
Thermo Scientific™ 相关应用： Spectroscopy Elemental Isotope Analysis
Thermo Scientific™ Nicolet™ iN™10 MX 显微红外成像光谱仪功能出色，包括新一代软件，是一个经济、高效的显微光谱仪
Nicolet iN10 MX 显微红外成像光谱仪操作简便，可以快速采集、分析化学图像，加深使用者对多相样品中的材料化学物质分布的理解。 Nicolet iN10 MX 显微红外成像光谱仪 集成 Thermo Scientific™ OMNIC™ Picta™ 软件，任何经验的用户均可获得一致可靠的结果。 此外，Nicolet iN10 MX 显微红外成像光谱仪采用一体化、高效光学设计，改善了常规单点测量的速度和灵敏度以及化学成像数据的质量。
| 货号 | 产品规格 | 应用 | 检测器类型 | 深度（公制） | 单价 (CNY) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| IQLAADGAAGFAHDMAPE | - | 显微光谱学和材料鉴定 | 标准： DTGS；可选： LN 冷却 MCT-A 和 MCT-A 线阵 | 653 mm | 申请报价 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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描述
Nicolet iN 10 MX 显微红外成像光谱仪的特点：
- 采用一体化设计，无需使用 FT-IR 光谱仪，即可对显微样品行分析
- 配置标准的 DTGS 室温检测器，无需使用液氮，即可分析小至 50 微米的样品
- Ultra-fast mapping（超快速成像）功能，结合液氮冷却 MCT 检测器使用时，可以获得更多分析功能
- Ultra-Fast Mapping（超快速成像）： 在 16cm 分辨率下，可达 10 步/秒，相当于仅在 4.5 分钟内可完成 1.2 × 1.2mm
- 标准单点 MCT 检测器
- 空间分辨率高于 10 微米
- 内置高度智能自动化设计功能，可自动执行仪器验证，提供相关化学、物理和分布信息
- 除具有 Thermo Scientific™ Nicolet™ iN™ 10 显微红外光谱仪的全部优势和选项，还具有强大的超快速成像功能
可配置的选件：
- 通过 MicroTip ATR，可以直接采样；通过液氮冷却检测器可以改善灵敏度
- 超快速 MX 成像检测器（在空间分辨率相同的情况下，比可选单点 MCT 检测器的快 15 倍）
- 双屏显示，便于舒适、高效地进行查看
- 自动可见偏振可改善查看效果
订货提示： 此显微红外成像光谱仪专为满足您的特定应用需要而设计。 详细信息，请联系您的 Thermo Scientific 销售代表。
推荐用途：
- 显微光谱学
- 材料鉴定
- 包装材料
- 涂层
- API 混合物分布图
- 异物鉴定
- 失效分析
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文档
产品文献
- Application Note: Attenuated Total Reflection FTIR Imaging of Soft Chew Formulations
- Application Note: Forensic Analysis of Paper Currency with FT-IR Microscopy
- Application Note: FT-IR Microspectroscopy in Forensic and Crime Lab Analysis
- Brochure: Nicolet iN10 MX FT-IR Microscope
- Brochure: Thermo Scientific Nicolet iN10, Nicolet iN10 MX
- PIC/S GMPの施行に向けた新たな取り組み[JA]
- Specification Sheet: Nicolet iN10 MX Infrared Imaging Microscope
- Technical Bulletin: Room Temperature vs. LN2 -Cooled Detectors Infrared Microscopy Cost/Performance Analysis
- White Paper: Setting the Benchmark for Confidence and Ease of Use in FT-IR Microscopy
- 赤外イメージングによる異物の高速スクリーニング[JA]
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